TDS太赫兹时域光谱系统
BATOP太赫兹时域光谱仪THz-TDS技术属于电磁辐射位相相干探测技术，是通过对THz脉冲不同时刻的电场强度进行位相相关的取样测量，获得THz脉冲电场的时域波形。再对THz时域波形进行傅立叶变换，获得THz脉冲电场频谱和位相信息。因此，太赫兹时域光谱仪THz-TDS可以同时直接探测被研究对象扰动的THz波电场振幅和相位双重信息。
产品特性：光谱范围最高可至4THz；带透射测试样品仓，可充氮气；针对小样品可选聚焦太赫兹光束；有额外端口，适用于外部光纤耦合测试；可选x-y-z样品位移台，用于3D扫描透反射测试；T3DS软件支持。
顶尖科仪，www.psci.cn
版权声明：
《工业激光应用》网站的一切内容及解释权皆归《工业激光应用》杂志社版权所有,未经书面同意不得转载,违者必究！
《工业激光应用》杂志社。
《工业激光应用》杂志社。
